Service
Funktion und Verwendung
Softwarepaket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit Force Modulation, Spreading Resistance und Leitfähigkeitsmessungen speziell für die Materialanalyse. Inklusive Proben und passenden Cantilevern.
Ausstattung und technische Daten
- Software Paket / Aktivierungsschlüssel für:
- Leitfähigkeitsmessungen
- Spreading Resistance
- Force Modulation
- Strom-Spannung-Spektroskopie
- Set aus 3 Proben:
- Probe für MFM (Magnetic Force Microscopy) - Digital Data Storage (DDS) Tape
- Probe für Spreading Resistance - Graphit (HOPG)
- Probe für Phasenkontrast - PS/PMMA Filme
- Set aus 8 Cantilevern:
- 4 x Multi75E-G (leitfähig beschichtet mit Pt/Cr, Dynamic Force Modus) für Force Modulation, EFM und Spreading Resistance, Leitfähigkeitsmessungen
- 4 x MFMR (magnetisch beschichtet coating, Dynamic Force Mode) für MFM
- die Bedienungsanleitung und erste Experimente finden sich im Handbuch, welches dem AFM beiliegt bzw. sind über das Help Panel im Softwarepaket measure nano als pdf verlinkt
- die PS/PMMA Probe kann auch für Kraftsprektroskopie und Manipulation/Lithographie (Scratching) verwendet werden (siehe AFM 09700-99 bzw Erweiterungspaket Spektroskopie und Manipulation (09702-00))
- Beschreibungen in englischer Sprache
Name
Dateiname
Dateigröße
Dateityp
(en) Content of delivery
0970100a_e .pdf
Dateigröße 0.13 Mb
pdf
(de) Kompakt Rasterkraft-Mikroskop, 2 Seiten
00277_01_afm_deutsch .pdf
Dateigröße 3.49 Mb
pdf
(en) Product flyer
00277_02_afm_englisch .pdf
Dateigröße 0.51 Mb
pdf
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