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Datenblatt


Eigenfluoreszenzstrahlung des Röntgenenergiedetektors

Artikel-Nr.: P2544205

Prinzip

Fluoreszenzstrahlung, die von Elementen einer Probestammen, können bei hinreichender Energie ihrerseits wieder im Detektor und in seinem Gehäuse Fluoreszenzstrahlung auslösen. Dadurch kann das Spektrum zusätzliche und nicht von der Probe stammende Linien
enthalten. Zum Nachweis möglicher Zusatzlinien wird der Detektor mit Hilfe eines  Einkristalls mit monochromatischer Röntgenstrahlung bestrahlt. Zum Vergleich werden Fluoreszenzspektren an reinen Metallproben gemessen.

Aufgaben

  1. Führen Sie mit Hilfe der charakteristischen Fluoreszenzstrahlung der Kalibrierungsprobe eine Kalibrierung des Halbleiterenergiedetektors durch.
  2. Bestrahlen Sie mit monoenergetischer Röntgenstrahlung, die durch Bragg-Reflexion an einem LiF-Einkristall erzeugt wird, den Röntgenenergiedetektor. Messen Sie das resultierende Fluoreszenzspektrum.
  3. Bestimmen Sie die Energie der Linien des Spektrums.
  4. Ordnen Sie durch Vergleich mit Tabellenwerten die Linien den entsprechenden Elementen zu.
  5. Messen Sie die Fluoreszenzspektren reiner Metallproben zum Vergleich und werten Sie sie aus.

Lernziele

  • Brems- und charakteristische
  • Röntgenstrahlung
  • Fluoreszenzstrahlung
  • Fluoreszenzausbeute
  • Interferenz von Röntgenstrahlen
  • Kristallstrukturen
  • Bragg-Gleichung
  • Comptonstreuung
  • Escape-Peaks
  • Halbleiterenergiedetektoren
  • Vielkanalanalysatoren

Lieferumfang

XR 4.0 expert unit Röntgengerät, 35 kV 09057-99 1
XR 4.0 X-ray Goniometer 09057-10 1
XR4 X-ray Einschub mit Kupfer-Röntgenröhre 09057-51 1
XR4 Röntgengerät Erweiterungsset Materialanalyse 09165-88 1

PHYWE Systeme GmbH & Co. KG
Robert-Bosch-Breite 10 – 37079 Göttingen – Deutschland
www.phywe.com