setTimeout(function(){ window.print(); },500)
 

Datenblatt


PHYWE Compact AFM, Rasterkraftmikroskop

Artikel-Nr.: 09700-99

Funktion und Verwendung

Kompaktes und einfach zu bedienendes Rasterkraftmikroskop zur Abbildung beliebiger Mikro- und Nanostrukturen. Entwickelt für den Einsatz in der Lehre, im Praktikum, sowie in der Forschungsvorbereitung in Physik, Chemie, Lebenswissenschaften und Ingenieurwissenschaften.

Vorteile

  • Kompaktes "all-in-one" Gerät: einfach zu bedienen, einfach zu transportieren
  • Komplettlösung: Gerät + Proben + Sonden + Werkzeug + Versuchsbeschreibungen
  • Automatische Annäherung der Sonden an die Probe zur Vermeidung der Beschädigung von Sonde und Probe
  • Proben einfach einzusetzen und zu wechseln
  • Keine Anpassung des Lasers erforderlich
  • Forschungsnahes Gerät zu einem Drittel des Preises eines Forschungsgeräts

Ausstattung und technische Daten

  • Messmodi: Kontakt, Dynamisch, Phasenkontrast, MFM, EFM, einfache Spektroskopie (Kraft-Abstand, Amplitude-Abstand, Spannung-Abstand).
  • Scan-Kopf mit integrierter Steuerung auf schwingungsgedämpfter Experimentierplatte, 21cm x 21cm x 18cm (L x B x H).
  • Klappmechanismus für Proben- und Cantileverzugang mit automischer Abschaltung der Probenbeleuchtung und automatischem Zurückfahren des Messkopfes, inklusive transparentem Schutz der Proben und Messkopfanordnung gegen Luftströmungen und Schall, USB 2.0 Anschluss.
  • Tip Scanner AFM: linear, elektro-magnetisch, Kleinspannung.
  • Maximaler Bildbereich: 70x70µm² (XY-Dimension, 10% Fertigungstoleranz).
  • Maximaler Messbereich in Z-Dimension: 14µm.
  • Auflösung X-Y-Z; 1,1nm.
  • Z-Rauschlevel (RMS statischer Modus): 0,6nm.
  • Z-Rauschlevel (RMS dynamischer Modus): 0,5nm.
  • Automatische Annäherung: vertikal, bis zu 4,5mm.
  • Aufnahme für Standardcantilever verschiedenster Hersteller mit Gräben für optimale Ausrichtung.
  • Aufsichtkamera: USB, 2048x1536 pixel, Auflösung besser als 2µm, Digitalzoom 1-fach, 2-fach und 4-fach.
  • Probenbeleuchtung mit weißer LED, automatische Abschaltung.
  • Erweiterung auf andere Modi (Spreading Resistance, Force Modulation, conductive AFM, Lithographie und erweiterte Spektroskopiemodi) durch passende Erweiterungspakete.
  • Erweiterung der Gerätesteuerung durch Scripting/Zugang zur Nutzerschnittstelle (LabView, VisualBasic, ...) über passendes Erweiterungspaket.
  • Cantilever Set: 4xKontaktmodus, 4xdynamischer Modus.
  • Proben Set (6): Kohlenstoffnanoröhrchen, CD Stempel, Chipstruktur, Hautquerschnit, Mikrostruktur, Staphylococcus-Bakterien (getrocknet).
  • 4 leere Probenhalter für eigene Proben.
  • Werkzeugset zum Einbau von Proben und Cantilevern.
  • Leistungsfähige Software zum Messen, Auswerten und Darstellen der Messergebnisse (1D, 2D und 3D).
  • Handbuch mit ausführlicher Bedienungs- und Softwareanleitung, ersten Experimenten und 5 ausführlich beschriebenen Experimenten (Abbildung mit AFM, MFM, Materialkontrast, einfache Kraftspektroskopie und Abbildung biologischer Proben).
  • Netzteil (100-240V, 50/60 Hz).
  • Kunstoffkoffer mit Ausparungen für Erweiterungspakete und Seitenkamera (44cm x 32cm x 25cm).

 

Empfohlenes Zubehör

Erweiterungspaket Materialanalyse, für compact AFM 09701-00
Erweiterungspaket Spektroskopie und Manipulation, für compact AFM 09702-00
Digitale Seitenkamera, USB, magnetisch haftend, für Compact AFM 09750-00
Cantilever, Kontaktmodus, 10 Stck, für compact AFM 09710-00
Cantilever, Dynamischer Modus, 10 Stck, für compact AFM 09711-00
Cantilever, magnetisch, 10 Stck, für compact AFM 09712-00
Cantilever, elektrisch leitend, 10 Stck, für compact AFM 09713-00

PHYWE Systeme GmbH & Co. KG
Robert-Bosch-Breite 10 – 37079 Göttingen – Deutschland
www.phywe.com